FT-333四探針電阻率測(cè)試儀
發(fā)布時(shí)間： 2024-04-29 15:41:36 點(diǎn)擊： 1153
FT-333四探針電阻率測(cè)試儀
一. 描述：
采用范德堡測(cè)量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語(yǔ)言版本.
二.參照標(biāo)準(zhǔn)：
硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?
FT-333四探針電阻率測(cè)試儀
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